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发布日期：2020-12-07
12月3日下午，计算机与信息学院吴海峰副教授在龙山校区稼先楼南108，为该院2020级研究生作了题为“集成电路测试数据压缩技术研究”学术讲座。
吴海峰首先介绍了集成电路测试数据压缩技术的产生背景，然后详细阐述了当前测试数据压缩技术的几个主要研究方向和算法实现过程，最后向同学们介绍了自己的研究方向和研究成果。
报告结束后，吴海峰与同学们就科研方法和论文写作进行了深入交流，鼓励大家积极思考、勇于探索。同学们表示，听了吴老师的报告受益匪浅，不仅了解了集成电路测试数据压缩技术，还学到了不少文献阅读和论文写作的知识。（撰稿：江健生 审核：王一宾）
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